<strike id="6uago"></strike>
本發(fā)明涉及電壓閃變監(jiān)測(cè)，尤其涉及一種配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)：
1、iec61000-4-15是國(guó)際電工委員會(huì)發(fā)布的關(guān)于電磁兼容性的標(biāo)準(zhǔn)之一。電磁兼容性(emc)第4-15部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃變計(jì)功能和設(shè)計(jì)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了用于測(cè)量電壓質(zhì)量中短時(shí)閃變（pst）和長(zhǎng)時(shí)閃變（plt）的設(shè)備和方法，短時(shí)閃變使用公式pst?=?[(∑(δvi)2?/?t)?/?(10?×?vmp)3]^(1/2)進(jìn)行計(jì)算，δvi是電壓變化量，t是測(cè)量時(shí)間窗口（標(biāo)準(zhǔn)通常為10分鐘），vmp是測(cè)量期間的平均電壓值，pst值通常應(yīng)低于特定閾值1.0。
2、目前，在配變終端中，可配選電壓監(jiān)測(cè)模塊來實(shí)現(xiàn)電壓監(jiān)測(cè)功能，以對(duì)配電變壓器的運(yùn)行參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)?，F(xiàn)有的對(duì)配電變壓器的運(yùn)行參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的做法是將采集的電壓數(shù)據(jù)通過計(jì)算公式得出監(jiān)測(cè)結(jié)果，以得到實(shí)時(shí)的電壓閃變值，這種做法需要較長(zhǎng)計(jì)算采樣時(shí)長(zhǎng)才能保證計(jì)算結(jié)果的準(zhǔn)確性，并且，這種做法只能在電壓閃變發(fā)生后一段時(shí)間才能得出，效率較低，影響監(jiān)測(cè)結(jié)果的可靠性。
3、在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題：
4、現(xiàn)有的配變終端中使用的電壓監(jiān)測(cè)模塊所計(jì)算的監(jiān)測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的目的在于提供一種配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在配變終端中使用的電壓監(jiān)測(cè)模塊所計(jì)算的監(jiān)測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性較低的技術(shù)問題。
2、本發(fā)明提供的諸多技術(shù)方案中的優(yōu)選技術(shù)方案所能產(chǎn)生的諸多技術(shù)效果詳見下文闡述。
3、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案：
4、第一方面，本發(fā)明給公開了一種配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，包括：
5、按照時(shí)間間隔獲取配變終端的電壓信號(hào)，得到有時(shí)序的電壓數(shù)據(jù)；
6、截取所述電壓數(shù)據(jù)，并將所述電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域信息，對(duì)所述頻域信息進(jìn)行分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)；
7、獲取電壓閃變數(shù)據(jù)集，對(duì)所述電壓閃變數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練和測(cè)試迭代，得到電壓閃變?cè)u(píng)估模型；其中，所述電壓閃變數(shù)據(jù)集中的電壓閃變數(shù)據(jù)從所述配變終端中提取；
8、將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中進(jìn)行分析計(jì)算，得到電壓閃變值。
9、可選的，所述獲取電壓閃變數(shù)據(jù)集，對(duì)所述電壓閃變數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練和測(cè)試迭代，得到電壓閃變?cè)u(píng)估模型，包括：
10、從電壓波形數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取電壓閃變數(shù)據(jù)，得到電壓閃變數(shù)據(jù)集；其中，所述電壓波形數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)有多個(gè)所述配變終端的電壓波形數(shù)據(jù)；
11、利用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法對(duì)所述電壓閃變數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練，得到電壓閃變訓(xùn)練模型庫(kù)；
12、使用電壓閃變數(shù)據(jù)集對(duì)所述電壓閃變訓(xùn)練模型庫(kù)進(jìn)行測(cè)試迭代，生成電壓閃變?cè)u(píng)估模型。
13、可選的，所述截取所述電壓數(shù)據(jù)，并將所述電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域信息，對(duì)所述頻域信息進(jìn)行分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)，包括：
14、使用滑動(dòng)窗口方式將所述電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行截取；
15、通過傅里葉變換將所述電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域信息；
16、對(duì)所述頻域信息進(jìn)行處理分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)。
17、可選的，對(duì)所述頻域信息進(jìn)行處理分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)，包括：
18、將所述頻域信息進(jìn)行特征提取，識(shí)別出頻譜分量中的高頻成分；
19、根據(jù)所述高頻成分檢測(cè)電壓波動(dòng)的頻率和幅度，得到所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)。
20、可選的，所述將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中進(jìn)行分析計(jì)算，得到電壓閃變值，包括：
21、將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中；
22、在所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中，將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征匹配，并進(jìn)行電壓短時(shí)閃變計(jì)算，得到電壓閃變值。
23、可選的，在將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中進(jìn)行分析計(jì)算之后，還包括：
24、在所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中，基于所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)生成預(yù)測(cè)電壓評(píng)估值。
25、可選的，所述生成預(yù)測(cè)電壓評(píng)估值，包括：
26、將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入至所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中；
27、在所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中，將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征匹配，計(jì)算得到所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)在所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中的匹配相似度；
28、根據(jù)所述匹配相似度生成預(yù)測(cè)電壓評(píng)估值。
29、可選的，所述按照時(shí)間間隔獲取配變終端的電壓信號(hào)，包括：使用高速電壓采樣的計(jì)量芯片按照時(shí)間間隔獲取電壓信號(hào)。
30、第二方面，本發(fā)明還公開了一種終端設(shè)備，包括：
31、一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器；
32、其中，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序，所述一個(gè)或多個(gè)處理器用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序，以使所述處理器執(zhí)行如上述所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法步驟。
33、第三方面，本發(fā)明還公開了一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)，所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法步驟。
34、實(shí)施本發(fā)明上述技術(shù)方案中的一個(gè)技術(shù)方案，具有如下優(yōu)點(diǎn)或有益效果：
35、本發(fā)明公開的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，包括：按照時(shí)間間隔獲取配變終端的電壓信號(hào)，得到有時(shí)序的電壓數(shù)據(jù)；截取電壓數(shù)據(jù)，并將電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域信息，對(duì)頻域信息進(jìn)行分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)；獲取電壓閃變數(shù)據(jù)集，對(duì)電壓閃變數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練和測(cè)試迭代，得到電壓閃變?cè)u(píng)估模型；其中，電壓閃變數(shù)據(jù)集中的電壓閃變數(shù)據(jù)從配變終端中提取；將電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入電壓閃變?cè)u(píng)估模型中進(jìn)行分析計(jì)算，得到電壓閃變值。
36、本發(fā)明可根據(jù)電壓信號(hào)得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)，再基于電壓波動(dòng)特征和電壓閃變?cè)u(píng)估模型直接計(jì)算出電壓閃變值，可節(jié)省監(jiān)測(cè)的時(shí)間，在提高電壓閃變值計(jì)算效率的同時(shí)，電壓閃變值的結(jié)果也具有更高的可靠性。
1.一種配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述獲取電壓閃變數(shù)據(jù)集，對(duì)所述電壓閃變數(shù)據(jù)集進(jìn)行訓(xùn)練和測(cè)試迭代，得到電壓閃變?cè)u(píng)估模型，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述截取所述電壓數(shù)據(jù)，并將所述電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域信息，對(duì)所述頻域信息進(jìn)行分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，對(duì)所述頻域信息進(jìn)行處理分析，得到電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中進(jìn)行分析計(jì)算，得到電壓閃變值，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，在將所述電壓波動(dòng)特征數(shù)據(jù)導(dǎo)入所述電壓閃變?cè)u(píng)估模型中進(jìn)行分析計(jì)算之后，還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述生成預(yù)測(cè)電壓評(píng)估值，包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述按照時(shí)間間隔獲取配變終端的電壓信號(hào)，包括：使用高速電壓采樣的計(jì)量芯片按照時(shí)間間隔獲取電壓信號(hào)。
9.一種終端設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-8中任一權(quán)利要求所述的配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法步驟。