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1.一種用于校準(zhǔn)成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法，其中，該光譜儀裝置(112)包括至少一個(gè)檢測(cè)器裝置(114)，該至少一個(gè)檢測(cè)器裝置包括被配置用于將入射光(118)分離成具有組成波長(zhǎng)分量(120)的光譜的至少一個(gè)光學(xué)元件(116)并且進(jìn)一步包括多個(gè)光敏元件(124)，其中，每個(gè)光敏元件(124)被配置用于接收這些組成波長(zhǎng)分量(120)之一的至少一部分并用于根據(jù)由相應(yīng)組成波長(zhǎng)分量(120)的至少一部分對(duì)相應(yīng)光敏元件(124)的照射情況來(lái)生成相應(yīng)的檢測(cè)器信號(hào)，其中，該方法包括以下步驟：
2.根據(jù)前一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法，其中，該預(yù)定義目標(biāo)成批分辨率值aλ,target被選擇為使得針對(duì)該光譜儀裝置(112)的相應(yīng)波長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換分辨率aλ,conv滿足aλ,conv≤aλ,target。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，將該線擴(kuò)散函數(shù)的相應(yīng)分辨率aλ,meas轉(zhuǎn)換為預(yù)定義目標(biāo)分辨率包括將測(cè)得的光譜與寬度由二次減法描述的至少一個(gè)核進(jìn)行卷積。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，該系統(tǒng)表征步驟包括：
5.根據(jù)前一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法，其中，在步驟a1)中，該光學(xué)干涉儀(130)的主頻率在預(yù)先確定的光譜范圍內(nèi)變化，并且其中，在步驟a2)中，該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)是根據(jù)該光學(xué)干涉儀(130)的主頻率來(lái)確定的，其中，在步驟a3)中，該線擴(kuò)散函數(shù)是通過(guò)將該光學(xué)干涉儀(130)的主頻率與該多個(gè)光敏元件(124)的生成該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)中的與該主頻率相關(guān)聯(lián)的強(qiáng)度峰值的像素位置和標(biāo)識(shí)號(hào)中的至少一者進(jìn)行比較來(lái)確定的。
6.根據(jù)前兩項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，該光學(xué)干涉儀(130)包括用于將入射光分成至少兩個(gè)照射路徑的至少一個(gè)分束裝置，其中，該光學(xué)干涉儀(130)進(jìn)一步包括在第一照射路徑上的至少一個(gè)掃描反射鏡和在第二照射路徑上的至少一個(gè)靜止反射鏡，其中，在該方法中，該掃描反射鏡沿該第一照射路徑移動(dòng)，其中，該靜止反射鏡保持靜止，其中，在步驟a2)中，該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)是針對(duì)該掃描反射鏡在該第一照射路徑上的多個(gè)位置來(lái)確定的，其中，該掃描反射鏡的該多個(gè)位置彼此不同，其中，步驟a3)包括將該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)與該掃描反射鏡的該多個(gè)位置進(jìn)行關(guān)聯(lián)，其中，在步驟a3)中，將該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)與該掃描反射鏡的該多個(gè)位置進(jìn)行關(guān)聯(lián)是用于確定該線擴(kuò)散函數(shù)。
7.根據(jù)前三項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，步驟a3)包括處理在該步驟a2)中確定的該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)，從而獲得多個(gè)經(jīng)處理的檢測(cè)器信號(hào)，其中，在步驟a3)中確定該線擴(kuò)散函數(shù)包括根據(jù)該多個(gè)經(jīng)處理的檢測(cè)器信號(hào)來(lái)確定該線擴(kuò)散函數(shù)，其中，處理該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)包括對(duì)該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)進(jìn)行變換，其中，通過(guò)使用至少一種傅立葉變換來(lái)對(duì)該多個(gè)檢測(cè)器信號(hào)進(jìn)行變換。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，該系統(tǒng)表征步驟包括：
9.根據(jù)前一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法，其中，步驟aii)包括通過(guò)使用理論線擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行核卷積來(lái)展寬這些單色光源(134)的已知光譜，其中，步驟aii)包括調(diào)整理論核的參數(shù)，直至這些單色光源(134)的經(jīng)展寬的光譜與測(cè)得的光譜相匹配，其中，經(jīng)調(diào)整的這些核參數(shù)用于近似該波長(zhǎng)下的線擴(kuò)散函數(shù)。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，該系統(tǒng)表征步驟包括：
11.根據(jù)前一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法，其中，步驟ab)包括通過(guò)使用理論線擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行核卷積來(lái)展寬該參考物體(132)的已知光譜，其中，步驟ab)包括調(diào)整理論核的參數(shù)，直至該參考物體(132)的經(jīng)展寬的光譜與測(cè)得的光譜相匹配，其中，經(jīng)調(diào)整的這些核參數(shù)用于近似該波長(zhǎng)下的線擴(kuò)散函數(shù)。
12.根據(jù)前兩項(xiàng)權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，步驟ab)包括將該參考物體(132)的已知光譜與通過(guò)使用該光譜儀裝置(112)在信號(hào)空間中測(cè)得的光譜進(jìn)行直接比較和/或?qū)⒃搮⒖嘉矬w(132)的已知光譜的至少一個(gè)導(dǎo)數(shù)與通過(guò)使用該光譜儀裝置(112)測(cè)得的光譜的至少一個(gè)導(dǎo)數(shù)進(jìn)行比較、具體地為比較這些光譜的一階導(dǎo)數(shù)、二階導(dǎo)數(shù)和/或更高階導(dǎo)數(shù)。
13.一種用于校準(zhǔn)成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的系統(tǒng)(110)，其中，該系統(tǒng)(110)包括該光譜儀裝置(112)，該光譜儀裝置包括至少一個(gè)檢測(cè)器裝置(114)，其中，該檢測(cè)器裝置(114)包括被配置用于將入射光(118)分離成具有組成波長(zhǎng)分量(120)的光譜的至少一個(gè)光學(xué)元件(116)并且進(jìn)一步包括多個(gè)光敏元件(124)，其中，每個(gè)光敏元件(124)被配置用于接收這些組成波長(zhǎng)分量(120)之一的至少一部分并用于根據(jù)由相應(yīng)組成波長(zhǎng)分量(120)的至少一部分對(duì)相應(yīng)光敏元件(124)的照射情況來(lái)生成相應(yīng)的檢測(cè)器信號(hào)，其中，該系統(tǒng)(110)進(jìn)一步包括至少一個(gè)評(píng)估單元(142)，其中，該評(píng)估單元(142)被配置用于執(zhí)行根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的用于校準(zhǔn)成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法。
14.一種包括指令的計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)該程序由根據(jù)前述涉及系統(tǒng)(110)的權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)(110)執(zhí)行時(shí)，這些指令使得該系統(tǒng)(110)的評(píng)估單元(142)執(zhí)行根據(jù)前述涉及方法的權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的用于校準(zhǔn)成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法。
15.一種包括指令的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)、具體地非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，當(dāng)這些指令由根據(jù)前述涉及系統(tǒng)(110)的權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)(110)執(zhí)行時(shí)，這些指令使得該系統(tǒng)(110)的評(píng)估單元(142)執(zhí)行根據(jù)前述涉及方法的權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的用于校準(zhǔn)成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法。